SuperViewW超光滑表面白光干涉輪廓儀可對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。
CEM3000強抗電磁干擾性能掃描電鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng),讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值,標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
NS系列磁吸式測針臺階儀通過2μm金剛石探針與LVDC傳感器的協(xié)同工作,結(jié)合亞埃級分辨率(5 Å)與智能化分析軟件,可精準測量臺階高度(納米至1050μm)、表面粗糙度(Ra、Rz等參數(shù))、膜層厚度及應(yīng)力分布,為材料研發(fā)、工藝優(yōu)化與質(zhì)量管控提供可靠數(shù)據(jù)支持。
CEM3000高襯度成像掃描電鏡系統(tǒng)憑借其簡便的操作系統(tǒng),讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值,標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
中圖儀器3D白光干涉表面形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
CEM3000高精度掃描電子顯微鏡憑借其簡便的操作系統(tǒng),讓復(fù)雜的掃描電鏡使用過程變得簡單快捷。在工業(yè)領(lǐng)域展現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用價值,標(biāo)配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統(tǒng),能滿足用戶對多類型樣品的觀測需求,實現(xiàn)微觀的形貌和元素分析等。
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