中圖國產(chǎn)光學(xué)輪廓儀SuperViewW系列基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

SJ5800中圖表面粗糙度測量儀具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，分辨率高達到0.1nm，系統(tǒng)殘差小于3nm。操作靈活、智能、簡單，輪廓和粗糙度一體測量，無需切換模塊。

SuperViewW系列光學(xué)3D形貌測量輪廓儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。

SJ5800中圖粗糙度輪廓度儀器儀采用超高精度納米衍射光學(xué)測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級摩擦導(dǎo)軌、高性能直流伺服驅(qū)動系統(tǒng)、高性能計算機控制系統(tǒng)技術(shù)，一次測量掃描后，在同一個界面顯示粗糙度評價結(jié)果與輪廓分析結(jié)果。

SJ5800大量程一體型粗糙度輪廓儀具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍，專業(yè)測試軸承內(nèi)外側(cè)。分辨率高達到0.1nm，系統(tǒng)殘差小于3nm。與配套軟件測量軸承滾道，輪廓和粗糙度一體測量，無需切換模塊。一次測量掃描后，在同一個界面顯示粗糙度評價結(jié)果與輪廓分析結(jié)果。

SuperViewW高精度3D表面光學(xué)輪廓儀的特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。它具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精細器件的過程用時短，確保了高款率檢測。